IC693MDL742IC693MDL742
IC693MDL7422.OTDR可測(cè)試的主要參數(shù):⑴測(cè)纖長(zhǎng)和事件點(diǎn)的位置。⑵測(cè)光纖的衰減和衰減分布情況。⑶測(cè)光纖的接頭損耗。⑷光纖全回?fù)p的測(cè)量。光纖距離的測(cè)量是以激光進(jìn)入光纖到它遇到故障點(diǎn)返回光時(shí)域反射儀的時(shí)間間隔來(lái)計(jì)量纖長(zhǎng)的。為了提高測(cè)量的精確度,應(yīng)根據(jù)被測(cè)纖的長(zhǎng)度設(shè)置合適的“距離范圍”和“脈沖寬度”,距離一般選被測(cè)纖長(zhǎng)的1.5倍,使曲線占滿屏的2/3為宜。脈沖寬度直接影響著OTDR的動(dòng)態(tài)范圍,隨著被測(cè)光纖長(zhǎng)度的增加,脈沖寬度也應(yīng)逐漸加大,脈寬越大,功率越大,可測(cè)的距離越長(zhǎng),但分辨率變低。脈寬越窄,分辨率越高,測(cè)量也就越精確。一般根據(jù)所測(cè)纖長(zhǎng),選擇一個(gè)適當(dāng)大小的脈沖寬度,經(jīng)常是試測(cè)兩次后,確定一個(gè)最佳值。光纖的衰減是客觀的反映光纖制作質(zhì)量的一個(gè)參數(shù),是光纖固有的損耗,它代表著光在光纖中傳輸光功率損耗的情況,相同長(zhǎng)度的光纖衰減越小,光可傳輸?shù)木嚯x就越遠(yuǎn)。因此在相同條件下,應(yīng)選用平均每公里損耗值小的光纖。衰減還包括光纖接頭、連接器、光纖彎曲斷裂等引起的損耗,在實(shí)際維護(hù)中應(yīng)盡量減少這些衰耗。衰減測(cè)試有兩點(diǎn)法和五點(diǎn)法,前者適合于圖線的線性較好,噪聲較小的情況,在測(cè)整條光纖或某兩點(diǎn)間的衰減值時(shí)一般也采用此方式。后者適用于光纖的一致性較差,噪聲較大的情況,測(cè)接頭損耗,連接器等反射引起的損耗也常用此方法,因它基于數(shù)學(xué)上的求偏差的理論,所以其測(cè)量精度較高,要求高的場(chǎng)合多被采用。在要求不太嚴(yán)格的情況下,也可直接從事件表中讀出各接點(diǎn)衰減值的大小。有的OTDR還具有回?fù)p和全回?fù)p的測(cè)試功能,但維護(hù)中很少使用。全回?fù)p測(cè)試的是反射光的能量和入射光的能量的比值的對(duì)數(shù)表示,而回?fù)p測(cè)試的原理與全回?fù)p有所不同。全回?fù)p和回?fù)p的測(cè)試可以在自動(dòng)或手動(dòng)模式下通過(guò)移動(dòng)游標(biāo)來(lái)實(shí)現(xiàn)。隨著OTDR制造技術(shù)的日益成熟,其測(cè)量精度也不斷提高,但是為什么有時(shí)測(cè)試的數(shù)據(jù)與線路上故障點(diǎn)的位置有較大的差距呢?下面我們對(duì)測(cè)試誤差進(jìn)行簡(jiǎn)要的分析。
【公 司】: 廈門泰尼電氣有限公司
【主 營(yíng)】: AB、GE、施耐德等各類PLC產(chǎn)品
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