是一款設(shè)計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀,可以滿足各個行業(yè)中對質(zhì)量保證和過程控制的要求。
用先進的X射線技術(shù),可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上,拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標準片的情況下進行測量。
測量技術(shù)同行15年,在同測量領(lǐng)域獨領(lǐng)風(fēng)蚤,成為膜厚儀,精準的數(shù)據(jù),先進的技術(shù),嚴格的品質(zhì)要求,可靠、可信、快速的服務(wù),及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持,值得您的信賴。