是一款全面強大的X射線熒光分析儀,能夠檢測各種大小的樣品,滿足鍍層厚度測量和材料分析。
元素光譜定性分析:精度高、穩(wěn)定性好.強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能.
隨著檢測零件的微小化,對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。并且,配備有新開發(fā)的薄膜 FP 法軟件,即使沒有厚度標準物質(zhì)也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量,可對應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。
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半導體BOWMAN X射線熒光美國膜厚測試儀
產(chǎn)品屬性
詳細信息 是一款全面強大的X射線熒光分析儀,能夠檢測各種大小的樣品,滿足鍍層厚度測量和材料分析。 元素光譜定性分析:精度高、穩(wěn)定性好.強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能. 隨著檢測零件的微小化,對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。并且,配備有新開發(fā)的薄膜 FP 法軟件,即使沒有厚度標準物質(zhì)也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量,可對應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。 相關(guān)產(chǎn)品 共0條 相關(guān)評論
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